We współcześnie szybko rozwijającym się obszarze montażu i testowania płytek drukowanych (PCB) zapewnienie wysokiej jakości produktu oraz niezawodności ma kluczowe znaczenie dla producentów PCB i projektantów elektronicznych. W poszukiwaniu skutecznych, skalowalnych i opłacalnych rozwiązań testowych wyróżniają się dwie metody: testowanie w obwodzie (ICT), powszechnie znane jako test „łóżko igieł”, oraz test sondami latającymi (FPT).
Obie metody są uważane za jedne z najlepszych sposobów testowania, jednak wybór między ICT a FPT pozostaje przedmiotem trwającej debaty, wymagającej głębszego zrozumienia i dyskusji. Wybór odpowiedniej metody testowania w zależności od skali produkcji, projektu oraz wymagań testowych ma zasadnicze znaczenie.
Ten przewodnik jest kompleksowym narzędziem nawigacyjnym, które pomoże Ci zrozumieć te dwa systemy testowe. Zawiera nie tylko przykłady z życia wzięte i praktyczne wskazówki, ale także opinie ekspertów. Dzięki temu przewodnikowi zdobędziesz szczegółową wiedzę na temat kluczowych różnic między nimi — testowanie flying probe a ICT, testowanie flying probe a testowanie w obwodzie — zalet każdej konfiguracji testowej oraz sytuacji, w których każda metoda testowania najlepiej spełnia Twoje potrzeby związane z testowaniem płytek PCB.

Testowanie flying probe to bardzo elastyczne, bezinwestycyjne rozwiązanie testowe, odpowiednie do prototypowania płytek PCB, produkcji małej i średniej wielkości oraz testowania nowego wprowadzenia produktu (NPI). Eliminuje ono potrzebę stosowania dedykowanych oprzyrządowań do pozycjonowania pinów, wykorzystując zamiast tego poruszające się sondy pomiarowe (do ośmiu lub więcej), kontrolowane przez zaawansowaną robotykę i oprogramowanie testowe.
Główną zaletą tej metody testowania jest jej projekt, który łączy szybkość i elastyczność, umożliwiając kontakt fizyczny z konkretnymi punktami pomiarowymi (padami, via, elementami) na płytce PCB bez konieczności stosowania drogich i pracochłonnych specjalnych uchwytów. Ten system testowy jest idealny dla aplikacji wymagających częstych zmian projektowych i zapewnia łatwą aktualizację przy wprowadzaniu nowych wersji.
Testowanie sondą lotną może obejmować dynamiczne sprawdzanie diod LED, sprawdzanie orientacji komponentów SMD oraz (jeśli odpowiednio skonfigurowane) dynamiczne Programowanie układów scalonych (IC).

Testowanie w obwodzie (ICT), znane również jako testowanie metodą 'łóżka igieł' lub po prostu testowanie ICT, od dawna jest standardem branżowym w produkcji masowej. Ta metoda wykorzystuje specjalistyczny sprzęt testowy wyposażony w setki, a nawet tysiące sprężynowych pinów, z których każdy dokładnie dopasowany jest do konkretnego punktu testowego lub węzła na płytce drukowanej.
Testery ICT (znane również jako testery w obwodzie) mogą testować wszystkie węzły na płytce drukowanej jednocześnie jednym naciśnięciem przycisku, umożliwiając szybką automatyczną inspekcję całej płytki w celu wykrycia przerwań, zwarcia, błędów cyfrowych, mostków lutowniczych oraz innych wad montażu.
Czynnik |
Test sondy latającej |
Test w obwodzie (ICT) |
Koszt przygotowania |
Niski (bez oprzyrządowania) |
Wysoki (wymagane oprzyrządowanie) |
Cykl testu/Czas |
Dłuższy cykl testowania na płytę PCB |
Ekstremalnie szybki — produkcja o dużej skali |
Przydatność objętości |
Prototypowanie, małe serie, szybkie zmiany |
Duże, stabilne serie produkcyjne |
Zasięg testów |
Elastyczny, umożliwia dostęp do punktów testowych niedostępnych dla głowicy kontaktowej |
Maksymalny przy pełnym dostępie do płytki |
Zarządzanie zmianami |
Łatwy, sterowany oprogramowaniem |
Drogi — nowa oprawka potrzebna przy każdej istotnej zmianie |
Najlepsza metoda testowania |
Dla zmian w projektowaniu, przeglądy DFT, szybka informacja zwrotna |
Dla stabilnych układów, efektywność, przepustowość |
Metoda kontaktowa |
Ruchome sondy nawiązują kontakt w każdym punkcie |
Stałe pinezki (uroczysko z pinezek) dotykają wszystkich punktów jednocześnie |
Ryzyko uszkodzenia |
Bardzo niska |
Wyższe; ryzyko przy delikatnych padach |
Proporcje |
Test ICT |
Test sondy latającej |
Typ Luminali |
Dedykowana oprawka testowa z wieloma stałymi pinami (opróbowanie typu „łóżko gwoździ”) |
Brak dedykowanej oprzwki; wykorzystuje ruchome sondy latające |
Proces badania |
Jednoczesne testowanie wszystkich punktów |
Testowanie sekwencyjne; sondy przemieszczają się z jednego punktu testowego do drugiego |
Czas badania |
Sekundy na płytę PCB — idealne dla produkcji seryjnej |
Minuty na płytę PCB — najlepsze dla prototypów i mniejszych partii |
Elastyczność |
Niska elastyczność; każda zmiana wymaga nowej oprzwki |
Wysoka elastyczność; adaptacja oprogramowania, szybkie przeoprogramowanie |
Koszt badania |
Niski koszt na jednostkę przy dużej liczbie sztuk, ale wysoki początkowy koszt oprzwki |
Wyższy koszt na płytę, ale praktycznie brak początkowych kosztów |
Zasięg testów |
Najlepszy do obwodów otwartych, zwartych, sprawdzania wartości i funkcji zintegrowanych |
Doskonały do wykrywania obwodów otwartych/zwartych, częściowego sprawdzania wartości, ale może mieć ograniczenia w przypadku gęstych BGA lub uszkodzeń warstw wewnętrznych |
Złożoność testu |
Może wykonywać testy funkcjonalne przy dodatkowym przygotowaniu |
Ograniczone testowanie funkcjonalne; skupia się na sprawdzaniu elektrycznym i komponentach |
Najlepsze zastosowanie |
Testowanie w obwodzie dla dojrzałych płytek o dużej produkcji |
Szybkie prototypowanie, wprowadzanie nowych produktów (NPI), niska seria oraz płytki z częstymi zmianami projektowymi |
Ryzyko |
Wynoszenie pinów, potencjalne uszkodzenie padów (szczególnie jeśli nie są odpowiednio konserwowane) |
Minimalne ryzyko, delikatny dla padów i płytek drukowanych |


Dlaczego stosować testowanie hybrydowe? Połączenie kolejnych testów lotem sondy i testowania w obwodzie pozwala spełnić różnorodne potrzeby testowania montażu na nowoczesnych liniach produkcyjnych płyt drukowanych, począwszy od weryfikacji projektu aż po masową produkcję:
P: Która metoda testowania jest najlepsza do walidacji DFM/DFT?
A: Pomiar za pomocą latającego sondy oferuje niezrównane zalety w iteracjach projektowych i działaniach projektowych zorientowanych na produkcję. Nie wymaga instalacji sprzętu i pozwala na szybką reakcję na zmiany projektowe.
P: Jaka jest główna różnica — latająca sonda a test w obwodzie?
A: Technologia ICT wykorzystuje matrycę styków (bed of nails), aby przetestować jednocześnie wszystkie węzły płytki drukowanej, co czyni ją idealną dla aplikacji o dużej liczbie sztuk i niskich kosztach. Testowanie za pomocą ruchomej sondy natomiast stosuje sekwencyjną metodę (ruchoma sonda), odpowiednią dla produkcji małoseryjnej i umożliwia elastyczne obsługiwania wielu modyfikacji płytek PCB.
P: Czy test za pomocą latającej sondy może przeprowadzić pełne testy funkcjonalne?
A: Choć możliwe dla prostych obwodów, technologia ICT (wraz z urządzeniami funkcjonalnymi) jest częściej stosowana, aby w pełni zweryfikować działanie obwodu.
P: Jakie jest ryzyko polegania wyłącznie na jednym systemie testowym?
A: Poleganie na pojedynczej metodzie inspekcji może prowadzić do pominięcia wad lub wąskich gardeł podczas wprowadzania nowych produktów i produkcji seryjnej. Połączenie dwóch metod inspekcji (lub uzupełnienie ich automatyczną inspekcją optyczną lub inspekcją rentgenowską) pozwala spełnić wszystkie wymagania dotyczące zakresu inspekcji.
Q: Jak szybki jest ICT w porównaniu z testowaniem flying probe?
A: Systemy ICT mogą zwykle przetestować setki płytek drukowanych na godzinę. Natomiast testowanie flying probe może pozwolić tylko na przetestowanie kilkudziesięciu płytek na godzinę, w zależności od stopnia skomplikowania płytki.
Wybór między testowaniem w obwodzie a testowaniem ruchomym sondą ostatecznie zależy od wymagań produkcji, złożoności płytki, budżetu i czasu potrzebnego na wprowadzenie produktu na rynek. Testowanie ruchomym sondą doskonale sprawdza się na wczesnych, szybkich i innowacyjnych etapach rozwoju produktu, umożliwiając szybkie iteracje projektowe i natychmiastową informację zwrotną. Testowanie w obwodzie, dzięki dedykowanemu sprzętowi i możliwości jednoczesnego testowania, zapewnia kompleksowe, szybkie i opłacalne pokrycie testów dla dojrzałych, stabilnych i dużych linii montażowych.