În domeniul în continuă evoluție al asamblării și testării circuitelor imprimate (PCB), asigurarea unei calități și fiabilități ridicate a produselor este esențială pentru producătorii de PCB și proiectanții electroniști. Atunci când se caută soluții eficiente, scalabile și rentabile pentru testare, două abordări se remarcă: testarea în-circuit (ICT), cunoscută în mod obișnuit ca „testare tip pat de cuie”, și testarea cu sonde zburătoare (FPT).
Ambele sunt considerate printre cele mai bune metode de testare, dar alegerea între ICT și FPT rămâne o dezbatere în curs care necesită o înțelegere și discuție mai aprofundată. Selectarea metodei potrivite de testare în funcție de diferitele volume de producție, proiectare și cerințe de testare este esențială.
Acest ghid este un instrument complet de navigare care vă ajută să înțelegeți aceste două sisteme de testare. Include nu doar exemple din lumea reală și sfaturi practice, ci și opinii ale experților. Prin intermediul acestui ghid, veți obține o înțelegere cuprinzătoare a diferențelor cheie dintre ele — testarea cu sonde zburătoare vs. ICT, testarea cu sonde zburătoare vs. testarea în circuit — avantajele fiecărui tip de configurare a testului, precum și scenariile în care fiecare metodă de testare este cel mai potrivită pentru nevoile dvs. de testare a PCB-urilor.

Testarea cu sonde zburătoare este o soluție de testare extrem de flexibilă, fără utilizarea unor scule dedicate, potrivită pentru prototiparea PCB-urilor, producția de volum mic până la mediu și testarea introducerii unui produs nou (NPI). Aceasta elimină necesitatea utilizării unor dispozitive fixe de poziționare a pinilor, folosind în schimb sonde de testare mobile (până la opt sau mai multe) controlate de roboți avansați și software de testare.
Avantajul principal al acestei metode de testare constă în designul său, care combină viteză și adaptabilitate, permițând contactul fizic cu puncte de testare specifice (pads, vias, componente) pe placa PCB fără a necesita fixture dedicate scumpe și laborioase. Acest sistem de testare este ideal pentru aplicații care necesită ajustări frecvente ale designului și asigură actualizări ușoare atunci când sunt lansate versiuni noi.
Testarea cu sonde de zbor poate include verificări dinamice ale "LED-urilor de test", verificări ale orientării componentelor SMD și (dacă este configurat corect) verificări dinamice Programarea IC.

Testarea în circuit (ICT), cunoscută și ca testare tip 'pat de ace' sau pur și simplu testare ICT, este de mult timp standardul industrial pentru producția de masă. Această metodă folosește echipamente specializate de testare echipate cu sute sau chiar mii de pini cu arc, fiecare aliniați precis cu un anumit punct de test sau nod de pe placa circuitului imprimat.
Testerele ICT (cunoscute și ca teste în circuit) pot testa toate nodurile unei plăci de circuit imprimat simultan, cu un singur apăsare, permițând o inspecție automată rapidă a întregii plăci pentru a detecta circuite deschise, scurturi, erori digitale, punți de lipire și alte defecte de asamblare.
Factor |
Test cu Probă Zburătoare |
Test în circuit (ICT) |
Costuri de configurare |
Scăzută (fără fixtură) |
Ridicată (necesită fixtură) |
Ciclul de testare/Timp |
Ciclu de testare mai lung per PCB |
Extrem de rapid—producție în volum mare |
Conformitate cu volumul |
Prototipare, producție de volum mic, modificări rapide |
Producții mari, stabile |
Acoperirea testării |
Flexibil, poate accesa puncte de testare inaccesibile pentru patul de cuie |
Maximă, cu acces complet la placă |
Gestionarea schimbării |
Ușor, condus de software |
Costisitor—un nou fixtur pentru fiecare modificare majoră |
Cea mai bună metodă de testare |
Pentru modificări de design, revizuire DFT, feedback rapid |
Pentru layout-uri stabile, eficiență, productivitate |
Metodă de contact |
Probe mobile fac contact în fiecare punct |
Pini fixi (dispozitiv tip pat de cuie) ating toate punctele simultan |
Risc de deteriorare |
Foarte scăzută |
Mai ridicat; risc pentru pad-uri delicate |
Aspect |
Test ICT |
Test cu Probă Zburătoare |
Tip Aparat |
Dispozitiv de test dedicat cu mai multe pini fixi (dispozitiv tip „pat de cuie”) |
Fără dispozitiv dedicat; utilizează sonde zburătoare mobile |
Procesul de testare |
Testare simultană a tuturor punctelor |
Testare secvențială; sondele se deplasează de la un punct de test la altul |
Timp de testare |
Secunde per PCB — ideal pentru volume mari |
Minute per PCB — cel mai potrivit pentru prototipuri și sarcini cu volum redus |
Flexibilitate |
Scăzută; fiecare modificare necesită un nou dispozitiv |
Ridicată; adaptare prin software, reproiectare rapidă |
Cost pe test |
Scăzută la volume mari, dar costul inițial al dispozitivului este ridicat |
Mai ridicată per placă, dar fără aproape niciun cost inițial |
Acoperirea testării |
Cel mai potrivit pentru circuite deschise, scurturi, verificări de valori și funcție integrată |
Excelent pentru detectarea circuitelor deschise/în scurt, unele verificări de valori, dar poate fi limitat în cazul BGA-urilor dense sau defectelor stratului interior |
Complexitatea testării |
Poate efectua teste funcionale cu configurare suplimentară |
Testare funcțională limitată; se concentrează pe verificări electrice și ale componentelor |
Cel mai bun caz de utilizare |
Testare în circuit pentru plăci mature, produse în volum mare |
Prototipare rapidă, introducere în producție (NPI), volume mici și plăci cu modificări frecvente ale designului |
Risc |
Uzură a pinilor, risc potențial de deteriorare a padurilor (mai ales dacă nu sunt întreținute corespunzător) |
Risc minim, blând cu padurile și plăcile de circuit |


De ce să utilizați testarea hibridă? Combinarea testării succesive cu sonde zburătoare și a testării în circuit poate satisface nevoile diverse de testare a asamblării liniilor moderne de producție a plăcilor de circuit imprimat, de la verificarea proiectului până la producția de masă:
Î: Care metodă de testare este cea mai bună pentru validarea DFM/DFT?
A: Măsurătorile cu sonde zburătoare oferă avantaje fără egal pentru iterațiile de proiectare și eforturile de proiectare orientate spre producție. Ele nu necesită instalarea de hardware și permit o reacție rapidă la modificările de proiectare.
Î: Care este diferența principală — sondă zburătoare vs test în circuit?
A: Tehnologia ICT folosește un pat de ace pentru a testa simultan toate nodurile unei plăci de circuit imprimat, ceea ce o face ideală pentru aplicații cu volum mare și costuri reduse. Testarea cu sonde mobile, pe de altă parte, utilizează o metodă secvențială (sondă mobilă) de testare, potrivită pentru producția în serii mici și capabilă să gestioneze în mod flexibil multiple modificări ale PCB-urilor.
Î: Poate testul cu sondă zburătoare să efectueze un test funcțional complet?
A: Deși este fezabilă pentru circuite simple, testul ICT (împreună cu dispozitivele funcționale) este adesea mai frecvent utilizat pentru a verifica complet funcționarea unui circuit.
Î: Care este riscul de a se baza doar pe un singur sistem de testare?
A: Bazați-vă pe o singură metodă de inspecție poate duce la defecte omise sau la blocaje în timpul lansării unui produs nou și al producției de masă. Combinarea a două metode de inspecție (sau completarea acestora cu inspecție optică automatizată sau inspecție cu raze X) poate satisface toate cerințele de acoperire a inspecției.
Î: Cât de rapid este ICT față de testarea cu sonde zburătoare?
R: Sistemele ICT pot testa în mod tipic sute de plăci de circuit imprimat pe oră. În schimb, testarea cu sonde zburătoare poate testa doar câteva zeci pe oră, în funcție de complexitatea plăcii de circuit.
Alegerea dintre testarea în-circuit și testarea cu sonde zburătoare depinde în ultimă instanță de cerințele de producție, complexitatea plăcii, buget și timpul necesar pentru introducerea pe piață. Testarea cu sonde zburătoare se remarcă în stadiile incipiente, rapide și inovatoare ale dezvoltării produsului, permițând o iterație rapidă a proiectării și feedback imediat. Testarea în-circuit, datorită echipamentelor dedicate și capacităților de testare simultană, oferă o acoperire completă, rapidă și rentabilă a testelor pentru linii de asamblare mature, stabile și de mare capacitate.