В современной быстро развивающейся области сборки и тестирования печатных плат (PCB) обеспечение высокого качества продукции и надежности имеет решающее значение для производителей печатных плат и электронных разработчиков. При поиске эффективных, масштабируемых и экономически выгодных решений для тестирования особое внимание уделяют двум подходам: тестированию в цепи (ICT), commonly known as "bed of nails" testing, и тестированию летающим щупом (FPT).
Оба метода считаются одними из лучших методов тестирования, однако выбор между ICT и FPT остается предметом споров, требующих более глубокого понимания и обсуждения. Выбор подходящего метода тестирования в зависимости от масштаба производства, конструкции и требований к тестированию имеет первостепенное значение.
Это руководство представляет собой комплексный инструмент навигации, который поможет вам понять эти две системы тестирования. Оно включает не только примеры из реальной практики и практические советы, но и мнения экспертов. Благодаря этому руководству вы получите всестороннее понимание ключевых различий между ними — тестирование летающим щупом против ICT, тестирование летающим щупом против внутрисхемного тестирования, преимуществ каждой конфигурации испытаний, а также сценариев, в которых каждый метод тестирования наилучшим образом соответствует вашим потребностям в тестировании печатных плат.

Тестирование летающим щупом — это высокогибкое решение для тестирования без использования специальных инструментов, подходящее для создания прототипов печатных плат, мелко- и среднесерийного производства, а также для тестирования при внедрении новой продукции (NPI). Оно устраняет необходимость в специальных приспособлениях для позиционирования контактов, вместо этого используются подвижные тестовые щупы (до восьми и более), управляемые передовой робототехникой и программным обеспечением для тестирования.
Ключевое преимущество данного метода тестирования заключается в его конструкции, сочетающей скорость и адаптивность, что позволяет осуществлять физический контакт с определенными контрольными точками (площадками, переходными отверстиями, компонентами) на печатной плате без необходимости использования дорогостоящих и трудоемких специализированных приспособлений. Эта система тестирования идеально подходит для применений, требующих частой корректировки конструкции, и обеспечивает простое обновление при выпуске новых версий.
Тестирование летающим щупом может включать динамические проверки светодиодов, проверку ориентации SMD-компонентов и (при правильной настройке) динамические Программирование ИС.

Внутрисхемное тестирование (ICT), также известное как тестирование методом «кровати из гвоздей» или просто ICT-тестирование, уже давно является отраслевым стандартом для массового производства. Этот метод использует специализированное испытательное оборудование, оснащенное сотнями или даже тысячами пружинных штырей, каждый из которых точно выровнен относительно определенной контрольной точки или узла на печатной плате.
ICT-тестеры (также известные как внутрисхемные тестеры) могут одновременно тестировать все узлы на печатной плате одним нажатием кнопки, что позволяет выполнять высокоскоростную автоматизированную проверку всей платы для выявления обрывов, коротких замыканий, цифровых ошибок, перемычек припоя и других дефектов сборки.
Фактор |
Тестирование с помощью подвижного зонда |
Тестирование на месте (ICT) |
Стоимость настройки |
Низкий (без приспособления) |
Высокий (требуется приспособление) |
Цикл тестирования/время |
Более длительный цикл тестирования на одну печатную плату |
Экстремально быстро — производство высокого объёма |
Соответствие объему |
Прототипирование, мелкосерийное производство, быстрые изменения |
Крупные, стабильные производственные серии |
Охват тестирования |
Гибкий, может достигать контрольных точек, недоступных для контактного поля |
Максимальный при полном доступе ко всей плате |
Управление изменениями |
Простота, управление через программное обеспечение |
Дорого — новое приспособление требуется при каждом значительном изменении |
Лучший метод тестирования |
Для изменений в конструкции, проверка DFT, быстрая обратная связь |
Для стабильных топологий, эффективность, пропускная способность |
Метод контакта |
Подвижные зонды осуществляют контакт в каждой точке |
Фиксированные штыри (тестовое приспособление типа «кровать из гвоздей») касаются всех точек одновременно |
Риск повреждения |
Очень низкий |
Выше; риск при работе с хрупкими контактными площадками |
Соотношение |
Тест ICT |
Тестирование с помощью подвижного зонда |
Тип Прибора |
Специализированная испытательная оснастка с несколькими фиксированными штырями (оснастка типа «кровать из гвоздей») |
Специализированная оснастка отсутствует; используются подвижные щупы |
Процесс испытаний |
Одновременное тестирование всех точек |
Последовательное тестирование; щупы перемещаются от одной контрольной точки к другой |
Время испытаний |
Секунды на печатную плату — идеально для крупносерийного производства |
Минуты на печатную плату — лучше всего подходит для прототипов и мелкосерийных заказов |
Гибкость |
Низкая гибкость; при каждом изменении требуется новая оснастка |
Высокая гибкость; адаптация программного обеспечения, быстрое перепрограммирование |
Стоимость теста |
Низкая стоимость при большом объеме, но высокие первоначальные затраты на оснастку |
Выше стоимость на одну плату, но практически отсутствуют первоначальные затраты |
Охват тестирования |
Лучше всего подходит для проверки разомкнутых и короткозамкнутых цепей, проверки значений и встроенных функций |
Отлично подходит для проверки обрывов/коротких замыканий, некоторых проверок значений, но может быть ограничен при работе с плотными BGA или дефектами внутренних слоев |
Сложность тестирования |
Может выполнять функциональные тесты при дополнительной настройке |
Ограниченное функциональное тестирование; основное внимание уделяется электрическим проверкам и проверке компонентов |
Лучшее применение |
Стендовое тестирование для зрелых плат с высоким объемом производства |
Быстрое прототипирование, запуск новой продукции (NPI), мелкосерийное производство и платы с частыми изменениями в конструкции |
Риск |
Износ контактных ножек, возможное повреждение контактных площадок (особенно при недостаточном обслуживании) |
Минимальный риск, щадящее воздействие на контактные площадки и печатные платы |


Зачем использовать гибридное тестирование? Сочетание последовательного тестирования летающим щупом и внутрисхемного тестирования позволяет удовлетворить разнообразные потребности по проверке сборки современных производственных линий печатных плат — от верификации проекта до массового производства:
В: Какой метод тестирования лучше всего подходит для проверки DFM/DFT?
A: Измерения летающим щупом предлагают беспрецедентные преимущества для итераций проекта и проектирования, ориентированного на производство. Они не требуют установки аппаратного обеспечения и позволяют быстро реагировать на изменения в конструкции.
В: В чем основное различие — тестирование летающим щупом или внутрисхемное тестирование?
О: Технология ICT использует контактную плату (bed of nails), чтобы одновременно проверить все узлы печатной платы, что делает её идеальной для массового производства с низкой стоимостью. Тестирование подвижным щупом, напротив, использует последовательный метод (движущийся щуп), подходящий для мелкосерийного производства и способен гибко обрабатывать множественные модификации печатных плат.
В: Может ли тестирование летающим щупом выполнять полное функциональное тестирование?
О: Хотя это возможно для простых схем, для полной проверки работоспособности цепи чаще используются ICT (вместе с функциональными устройствами).
В: Каковы риски, связанные с использованием только одной системы тестирования?
A: Опора на единственный метод проверки может привести к пропуску дефектов или возникновению узких мест при запуске новых продуктов и массовом производстве. Сочетание двух методов проверки (или их дополнение автоматической оптической инспекцией или рентгеновской инспекцией) позволяет удовлетворить все требования по охвату проверок.
В: Насколько быстрее ICT по сравнению с летающим щупом?
О: Системы ICT обычно могут тестировать сотни печатных плат в час. В отличие от них, тестирование летающим щупом может выполнять проверку лишь нескольких десятков плат в час, в зависимости от сложности печатной платы.
Выбор между тестированием на монтажной плате и методом летающего щупа в конечном итоге зависит от требований к производству, сложности платы, бюджета и срока вывода продукта на рынок. Тестирование методом летающего щупа отлично подходит для ранних, быстрых и инновационных этапов разработки продукта, обеспечивая быструю итерацию проекта и немедленную обратную связь. Тестирование на монтажной плате с использованием специализированного оборудования и возможностью одновременного тестирования обеспечивает всестороннее, быстрое и экономически эффективное покрытие тестами для зрелых, стабильных и крупносерийных сборочных линий.