Dans le domaine en constante évolution de l'assemblage et du test des cartes de circuits imprimés (PCB), garantir une haute qualité et fiabilité des produits est crucial pour les fabricants de PCB et les concepteurs électroniques. Lorsqu'on recherche des solutions de test efficaces, évolutives et rentables, deux approches se distinguent : le test en circuit (ICT), couramment appelé test « bed of nails », et le test à sondes volantes (FPT).
Ces deux méthodes sont considérées parmi les meilleures, mais le choix entre ICT et FPT reste un sujet de débat nécessitant une compréhension et une discussion approfondies. La sélection de la méthode de test appropriée selon l'échelle de production, la conception et les exigences de test est essentielle.
Ce guide est un outil de navigation complet qui vous aide à comprendre ces deux systèmes de test. Il inclut non seulement des exemples concrets et des conseils pratiques, mais aussi des avis d'experts. Grâce à ce guide, vous obtiendrez une compréhension approfondie des principales différences entre eux — test par sondes volantes contre test ICT, test par sondes volantes contre test en circuit —, des avantages de chaque configuration de test, ainsi que des scénarios dans lesquels chaque méthode de test est la mieux adaptée à vos besoins de test de cartes PCB.

Le test par sondes volantes est une solution de test hautement flexible et sans outillage, adaptée à la prototypage de cartes PCB, à la production de petits à moyens volumes et aux tests lors de l'introduction de nouveaux produits (NPI). Il élimine le besoin de fixations dédiées pour le positionnement des broches, utilisant plutôt des sondes de test mobiles (jusqu'à huit ou plus) contrôlées par une robotique avancée et un logiciel de test.
Le principal avantage de cette méthode de test réside dans sa conception, qui allie rapidité et adaptabilité, permettant un contact physique avec des points de test spécifiques (pads, vias, composants) sur le circuit imprimé, sans nécessiter de fixtures dédiées coûteuses et chronophages. Ce système de test est idéal pour les applications nécessitant des ajustements fréquents de conception et garantit une mise à jour facile lors de la sortie de nouvelles versions.
Les tests par sondes volantes peuvent inclure des vérifications dynamiques des « témoins lumineux », des contrôles d'orientation des composants SMD, et (si correctement configurés) des tests dynamiques De programmation de circuits intégrés.

Le test en circuit (ICT), également connu sous le nom de test bed of nails ou simplement test ICT, est depuis longtemps la norme industrielle pour la production de masse. Cette méthode utilise un équipement de test spécialisé équipé de centaines, voire de milliers, de broches à ressort, chacune alignée précisément sur un point de test ou un nœud spécifique de la carte de circuit imprimé.
Les testeurs ICT (également appelés testeurs en circuit) peuvent tester simultanément tous les nœuds d'une carte de circuit imprimé en une seule pression, permettant une inspection automatisée à grande vitesse de l'ensemble de la carte afin de détecter les circuits ouverts, les courts-circuits, les erreurs numériques, les ponts de soudure et autres défauts d'assemblage.
Facteur |
Test par sonde volante |
Test en circuit (ICT) |
Coût de mise en place |
Faible (pas de fixture) |
Élevé (fixture requise) |
Cycle d'essai/Durée |
Cycle d'essai plus long par carte PCB |
Extrêmement rapide — production à haut volume |
Adaptabilité au volume |
Prototypage, faible volume, changements rapides |
Grandes séries stables |
Couverture des tests |
Flexible, peut atteindre des points de test inaccessibles avec le lit de clous |
Maximale avec accès complet à la carte |
Gestion des modifications |
Facile, piloté par logiciel |
Coûteux — un nouvel outillage requis pour chaque modification majeure |
Meilleure méthode de test |
Pour les modifications de conception, examens DFT, rétroaction rapide |
Pour les schémas stables, l'efficacité et le débit |
Méthode de contact |
Des sondes mobiles entrent en contact à chaque point |
Des broches fixes (support type lit de clous) touchent tous les points simultanément |
Risque de dommage |
Très faible |
Plus élevé ; risque avec des pastilles délicates |
Aspect |
Test ICT |
Test par sonde volante |
Type d'Appareil |
Montage d'essai dédié avec plusieurs broches fixes (montage type lit de clous) |
Pas de montage dédié ; utilise des sondes volantes mobiles |
Processus de test |
Test simultané de tous les points |
Test séquentiel ; les sondes passent d'un point de test à l'autre |
Temps de test |
Secondes par circuit imprimé — idéal pour les grandes séries |
Minutes par circuit imprimé — mieux adapté aux prototypes et petites séries |
Flexibilité |
Faible ; chaque modification nécessite un nouveau montage |
Élevée ; adaptation logicielle, reprogrammation rapide |
Coût par test |
Faible en grande série, mais coût élevé du montage initial |
Plus élevé par carte, mais presque aucun coût initial |
Couverture des tests |
Idéal pour les circuits ouverts, les courts-circuits, les vérifications de valeurs et la fonction intégrée |
Excellent pour les circuits ouverts/fermés, certaines vérifications de valeurs, mais peut être limité pour les BGA denses ou les défauts des couches internes |
Complexité du test |
Peut effectuer des tests fonctionnels avec un équipement supplémentaire |
Tests fonctionnels limités ; axé sur les vérifications électriques et des composants |
Meilleur usage |
Test en circuit pour cartes matures et à grand volume |
Prototypage rapide, introduction en production (NPI), faible volume et cartes subissant fréquemment des modifications de conception |
Risque |
Usure des broches, risque de dommage aux pastilles (surtout si mal entretenu) |
Risque minimal, doux pour les pastilles et les cartes électroniques |


Pourquoi utiliser un test hybride ? La combinaison successive du test par sonde mobile et du test en circuit peut répondre aux besoins variés de test d'assemblage des lignes modernes de production de cartes de circuits imprimés, de la vérification de conception à la production de masse :
Q : Quelle méthode de test est la meilleure pour la validation DFM/DFT ?
A : Les mesures par sondes volantes offrent des avantages inégalés pour l'itération de conception et les démarches de conception orientées fabrication. Elles ne nécessitent aucune installation matérielle et permettent une réponse rapide aux modifications de conception.
Q : Quelle est la principale différence — sondes volantes vs test en circuit ?
A : La technologie ICT utilise un lit de clous pour tester simultanément tous les nœuds d'un circuit imprimé, ce qui la rend idéale pour les applications à grand volume et faible coût. Le test par sondes mobiles, en revanche, utilise une méthode de test séquentielle (sondes mobiles), adaptée à la production en petites séries et capable de gérer de manière flexible plusieurs modifications de circuits imprimés.
Q : Le test par sondes volantes peut-il effectuer un test fonctionnel complet ?
A : Bien qu'il soit réalisable pour des circuits simples, le test ICT (associé à des dispositifs fonctionnels) est souvent plus couramment utilisé pour vérifier complètement le fonctionnement d'un circuit.
Q : Quel est le risque de s'appuyer uniquement sur un seul système de test ?
A : Le fait de s'appuyer sur une seule méthode d'inspection peut entraîner des défauts non détectés ou des goulots d'étranglement lors du lancement de nouveaux produits et de la production de masse. La combinaison de deux méthodes d'inspection (ou leur complément par un contrôle optique automatisé ou un examen aux rayons X) permet de répondre à toutes les exigences de couverture d'inspection.
Q : Quelle est la rapidité du test ICT par rapport au flying probe ?
A : Les systèmes ICT peuvent généralement tester des centaines de cartes de circuit imprimé par heure. En revanche, le test par flying probe ne peut tester que quelques dizaines de cartes par heure, selon la complexité de la carte.
Le choix entre le test en circuit et le test par sondes volantes dépend essentiellement des exigences de production, de la complexité des cartes, du budget et du délai de mise sur le marché. Le test par sondes volantes excelle lors des phases initiales, rapides et innovantes du développement produit, permettant une itération rapide des conceptions et un retour immédiat. Le test en circuit, grâce à son équipement dédié et ses capacités de test simultané, offre une couverture d'essai complète, rapide et rentable pour les lignes d'assemblage matures, stables et à grande échelle.