Di era yang terus berkembang pesat dalam bidang perakitan dan pengujian papan sirkuit tercetak (PCB), memastikan kualitas produk dan keandalan yang tinggi sangat penting bagi para produsen PCB maupun perancang elektronik. Saat mencari solusi pengujian yang efisien, dapat ditingkatkan skalanya, serta hemat biaya, dua pendekatan menonjol: pengujian dalam-sirkuit (ICT), yang umum dikenal sebagai pengujian "bed of nails", dan pengujian flying probe (FPT).
Keduanya dianggap sebagai salah satu metode pengujian terbaik, namun pemilihan antara ICT dan FPT tetap menjadi perdebatan yang berkelanjutan dan memerlukan pemahaman serta diskusi lebih mendalam. Memilih metode pengujian yang tepat berdasarkan skala produksi, desain, dan kebutuhan pengujian yang berbeda merupakan hal yang kritis.
Panduan ini merupakan alat navigasi komprehensif yang membantu Anda memahami kedua sistem pengujian tersebut. Panduan ini mencakup tidak hanya contoh dari dunia nyata dan tips praktis, tetapi juga pendapat para ahli. Melalui panduan ini, Anda akan memperoleh pemahaman menyeluruh mengenai perbedaan utama di antara keduanya—flying probe testing vs. ICT, flying probe testing vs. in-circuit testing—keunggulan masing-masing konfigurasi pengujian, serta skenario di mana setiap metode pengujian paling sesuai untuk kebutuhan pengujian PCB Anda.

Flying probe testing adalah solusi pengujian yang sangat fleksibel dan tanpa perangkat keras, cocok untuk prototipe PCB, produksi volume kecil hingga menengah, serta pengujian New Product Introduction (NPI). Metode ini menghilangkan kebutuhan akan perlengkapan penentu posisi pin khusus, melainkan menggunakan probe uji bergerak (hingga delapan atau lebih) yang dikendalikan oleh robotika canggih dan perangkat lunak pengujian.
Keunggulan utama dari metode pengujian ini terletak pada desainnya yang menggabungkan kecepatan dan adaptabilitas, memungkinkan kontak fisik dengan titik-titik uji tertentu (pad, via, komponen) pada PCB tanpa memerlukan perangkat khusus yang mahal dan padat karya. Sistem pengujian ini ideal untuk aplikasi yang membutuhkan penyesuaian desain secara berkala dan memastikan pembaruan mudah dilakukan ketika versi baru dirilis.
Pengujian probe penerbangan dapat mencakup pemeriksaan dinamis "test LED", pemeriksaan orientasi komponen SMD, dan (jika dikonfigurasi dengan benar) dinamis Pemrograman IC.

Pengujian dalam-sirkuit (ICT), juga dikenal sebagai pengujian bed of nails atau hanya pengujian ICT, telah lama menjadi standar industri untuk produksi massal. Metode ini menggunakan peralatan pengujian khusus yang dilengkapi ratusan bahkan ribuan pin pegas, masing-masing selaras secara presisi dengan titik uji atau node tertentu pada papan sirkuit tercetak.
Penguji ICT (juga dikenal sebagai penguji dalam-sirkuit) dapat menguji semua node pada papan sirkuit tercetak secara bersamaan dengan satu kali tekan, memungkinkan inspeksi otomatis berkecepatan tinggi terhadap seluruh papan untuk mendeteksi rangkaian terbuka, korsleting, kesalahan digital, jembatan solder, dan cacat perakitan lainnya.
Faktor |
Flying Probe Test |
Pengujian In-Circuit (ICT) |
Biaya Persiapan |
Rendah (tanpa fixture) |
Tinggi (memerlukan fixture) |
Siklus Uji/Waktu |
Siklus uji lebih panjang per PCB |
Sangat cepat—produksi volume tinggi |
Kesesuaian Volume |
Prototipe, volume rendah, perubahan cepat |
Lari produksi besar dan stabil |
Cakupan Pengujian |
Fleksibel, dapat menjangkau titik uji yang tidak terjangkau oleh bed of nails |
Maksimal dengan akses penuh ke papan |
Manajemen Perubahan |
Mudah, dikendalikan oleh perangkat lunak |
Mahal—perlengkapan baru untuk setiap perubahan besar |
Metode Pengujian Terbaik |
Untuk perubahan desain, tinjauan DFT, umpan balik cepat |
Untuk tata letak yang stabil, efisiensi, dan throughput |
Metode Kontak |
Probe bergerak melakukan kontak pada setiap titik |
Pin tetap (fixture tempat tidur paku) menyentuh semua titik sekaligus |
Risiko Kerusakan |
Sangat Rendah |
Lebih tinggi; risiko terhadap pad yang halus |
Aspek |
Uji ICT |
Flying Probe Test |
Jenis Fiks |
Perangkat uji khusus dengan banyak pin tetap (perangkat tempat tidur paku) |
Tidak menggunakan perangkat khusus; menggunakan probe terbang yang dapat bergerak |
Proses pengujian |
Pengujian semua titik secara bersamaan |
Pengujian secara berurutan; probe bergerak dari satu titik uji ke titik uji lainnya |
Waktu pengujian |
Detik per PCB—ideal untuk produksi volume tinggi |
Menit per PCB—paling baik untuk prototipe dan pekerjaan volume rendah |
Fleksibilitas |
Rendah; setiap perubahan memerlukan perangkat baru |
Tinggi; adaptasi perangkat lunak, pemrograman ulang cepat |
Biaya per Tes |
Rendah pada volume tinggi, tetapi biaya awal perangkat cukup tinggi |
Lebih tinggi per papan, tetapi hampir tanpa biaya awal |
Cakupan Pengujian |
Terbaik untuk sirkuit terbuka, korsleting, pemeriksaan nilai, dan fungsi terintegrasi |
Sangat baik untuk sirkuit terbuka/korsleting, beberapa pemeriksaan nilai, tetapi mungkin terbatas untuk BGA padat atau kesalahan lapisan dalam |
Kompleksitas Pengujian |
Dapat melakukan pengujian fungsional dengan penyiapan tambahan |
Pengujian fungsional terbatas; fokus pada pemeriksaan listrik dan komponen |
Kasus Penggunaan Terbaik |
Pengujian dalam-sirkuit untuk papan matang dengan volume tinggi |
Prototipe cepat, NPI, volume rendah, dan papan dengan perubahan desain yang sering |
Risiko |
Keausan pin, risiko kerusakan pad (terutama jika tidak dirawat) |
Risiko minimal, lembut terhadap pad dan papan sirkuit |


Mengapa menggunakan pengujian hibrida? Menggabungkan pengujian terbang berturut-turut dan pengujian in-sirkuit dapat memenuhi kebutuhan pengujian perakitan yang beragam pada lini produksi papan sirkuit tercetak modern, dari verifikasi desain hingga produksi massal:
P: Metode pengujian mana yang terbaik untuk validasi DFM/DFT?
A: Pengukuran flying probe menawarkan keunggulan luar biasa untuk iterasi desain dan upaya desain yang berorientasi manufaktur. Metode ini tidak memerlukan pemasangan perangkat keras dan memungkinkan respons cepat terhadap perubahan desain.
P: Apa perbedaan utama—flying probe vs uji sirkuit dalam (in-circuit test)?
A: Teknologi ICT menggunakan bed of nails untuk menguji semua node pada papan sirkuit tercetak secara bersamaan, sehingga sangat ideal untuk aplikasi volume tinggi dengan biaya rendah. Sebaliknya, pengujian moving probe menggunakan metode pengujian sekuensial (probe bergerak), cocok untuk produksi skala kecil dan mampu secara fleksibel menangani berbagai modifikasi PCB.
P: Apakah pengujian flying probe dapat melakukan pengujian fungsional secara lengkap?
A: Meskipun layak digunakan untuk sirkuit sederhana, ICT (bersama dengan perangkat fungsional) lebih sering digunakan untuk memverifikasi secara menyeluruh operasi suatu sirkuit.
P: Apa risiko mengandalkan hanya satu sistem pengujian?
A: Mengandalkan satu metode inspeksi saja dapat menyebabkan cacat yang terlewat atau kemacetan selama peluncuran produk baru dan produksi massal. Menggabungkan dua metode inspeksi (atau melengkapinya dengan inspeksi optik otomatis atau inspeksi sinar-X) dapat memenuhi semua persyaratan cakupan inspeksi.
Q: Seberapa cepat ICT dibandingkan flying probe?
A: Sistem ICT biasanya dapat menguji ratusan papan sirkuit tercetak per jam. Sebaliknya, pengujian flying probe mungkin hanya mampu menguji beberapa lusin per jam, tergantung pada kompleksitas papan sirkuit.
Pemilihan antara pengujian rangkaian dalam (in-circuit testing) dan pengujian flying probe pada akhirnya bergantung pada kebutuhan produksi, kompleksitas papan, anggaran, dan waktu peluncuran produk. Pengujian flying probe unggul dalam tahap awal, cepat, dan inovatif dari pengembangan produk, memungkinkan iterasi desain yang cepat serta umpan balik langsung. Pengujian in-circuit, dengan peralatan khusus dan kemampuan pengujian simultan, memberikan cakupan pengujian yang komprehensif, cepat, dan hemat biaya untuk lini perakitan yang matang, stabil, dan berskala besar.