I dagens snabbt utvecklande område av montering och testning av kretskort (PCB) är det avgörande för tillverkare av PCB och elektronikdesigners att säkerställa hög produktkvalitet och pålitlighet. När man söker effektiva, skalbara och kostnadseffektiva testlösningar finns två metoder som sticker ut: in-circuit-testning (ICT), vanligtvis känd som "bed of nails"-testning, och flying probe-testning (FPT).
Båda anses vara bland de bästa testmetoderna, men valet mellan ICT och FPT förblir en pågående debatt som kräver djupare förståelse och diskussion. Att välja rätt testmetod utifrån olika produktionsvolymer, design och testkrav är kritiskt.
Den här guiden är ett omfattande navigeringsverktyg som hjälper dig att förstå dessa två testsystem. Den innehåller inte bara exempel från verkligheten och praktiska tips utan också expertrapporter. Genom denna guide får du en komplett förståelse av de viktigaste skillnaderna mellan dem – flygande probtestning kontra ICT, flygande probtestning kontra kretskortstestning – fördelarna med varje testuppställning samt de scenarier där varje testmetod är bäst lämpad för dina PCB-testbehov.

Flygande probtestning är en mycket flexibel, verktygsfri testlösning lämplig för PCB-prototypning, produktion i små till medelstora serier samt ny produktintroduktion (NPI). Den eliminerar behovet av dedikerade fixturer för pinnpositionering och använder istället rörliga testprober (upp till åtta eller fler) som styrs av avancerad robotik och testprogramvara.
Den viktigaste fördelen med denna testmetod ligger i dess design, som kombinerar hastighet och anpassningsförmåga, vilket möjliggör fysisk kontakt med specifika testpunkter (pads, viahål, komponenter) på kretskortet utan behov av dyra och arbetsintensiva specialfixturer. Detta testsystem är idealiskt för tillämpningar som kräver frekventa designändringar och säkerställer enkel uppdatering när nya versioner släpps.
Flygprobtestning kan inkludera dynamiska "test-LED"-kontroller, kontroller av SMD-komponents riktning och (om det är korrekt konfigurerat) dynamisk IC-programmering.

In-kretstestning (ICT), även känd som bed-of-nails-testning eller enkelt uttryckt ICT-testning, har länge varit branschstandard för massproduktion. Denna metod använder specialiserad testutrustning utrustad med hundratals eller till och med tusentals fjädrade stift, varje exakt justerade mot en specifik testpunkt eller nod på tryckkretskortet.
ICT-testare (även kända som in-kretstestare) kan testa alla noder på ett tryckkretskort samtidigt med ett enda tryck, vilket möjliggör snabb automatiserad inspektion av hela kortet för att upptäcka öppna kretsar, kortslutningar, digitala fel, soldnbrukar och andra monteringsdefekter.
Fabrik |
Flygprobtest |
In-Circuit Test (ICT) |
Installationskostnad |
Låg (ingen fixtur) |
Hög (fixtur krävs) |
Testcykel/Tid |
Längre testcykel per PCB |
Extremt snabb – högvolymproduktion |
Volymlämplighet |
Prototyp, låg volym, snabba ändringar |
Stora, stabila produktionsserier |
Testomfattning |
Flexibel, kan nå testpunkter som ej är tillgängliga med bed of nails |
Maximal med full tillgång till kretskortet |
Förändringshantering |
Enkelt, programstyrda tester |
Dyrt – ny fixtur vid varje större förändring |
Bästa testmetod |
För designändringar, DFT-granskningar, snabb återkoppling |
För stabila layouter, effektivitet, genomströmning |
Kontaktmetod |
Rörliga prov kan ta kontakt vid varje punkt |
Fixerade pinnar (säng av spik-fixtur) rör vid alla punkter samtidigt |
Risk för skador |
Mycket låg |
Högre; risk med känsliga ytor |
Aspekt |
ICT-test |
Flygprobtest |
Ljusstyp |
Dedikerad testfixtur med flera fasta pinnar (säng av spik-fixtur) |
Ingen dedikerad fixtur; använder rörliga flygande provtagare |
Provningsprocess |
Samtidig testning av alla punkter |
Sekventiell testning; provtagare flyttar sig från en testpunkt till en annan |
Testtid |
Sekunder per kretskort – idealiskt för höga volymer |
Minuter per kretskort – bäst för prototyper och lägre volymer |
Flexibilitet |
Låg; varje ändring kräver ny fixtur |
Hög; mjukvaruanpassning, snabb omprogrammering |
Kostnad per test |
Låg vid hög volym, men initial fixturkostnad är hög |
Högre per kretskort, men nästan ingen initial kostnad |
Testomfattning |
Bäst för öppna kretsar, kortslutningar, värdekoll och integrerade funktioner |
Utmärkt för öppna/korta, vissa värdekontroller, men kan vara begränsad för täta BGA eller fel i inre lager |
Testkomplexitet |
Kan utföra funktionskontroll med extra installation |
Begränsad funktionskontroll; fokus på elektriska och komponentkontroller |
Bästa användningsfall |
In-circuit-testning för mogna, högvolymskort |
Snabb prototypframställning, NPI, låg volym och kort med frekventa designändringar |
Risk |
Pinslitage, potentiell skada på pad (särskilt om inte underhålls) |
Minimal risk, försiktig mot pad och kretskort |


Varför använda hybridtestning? Att kombinera successiv flygprobtestning och in-kretstestning kan möta de mångsidiga monteringstestbehoven i moderna kretskortslinjer, från designverifiering till massproduktion:
Q: Vilken testmetod är bäst för DFM/DFT-validering?
A: Flygprovmätningar erbjuder oöverträffade fördelar för designiteration och tillverkningsinriktade designinsatser. De kräver ingen hårdvaruinstallation och tillåter snabb anpassning till designförändringar.
Q: Vad är den huvudsakliga skillnaden – flygande prov vs. in-kretstest?
A: ICT-teknik använder en 'säng av spikar' för att testa alla noder på en kretskortsskiva samtidigt, vilket gör den idealisk för högvolym och lågkostnadsapplikationer. Rörligt provtest använder däremot en sekventiell (rörlig prov) testmetod, lämplig för liten serieproduktion och kapabel att flexibelt hantera flera PCB-modifikationer.
Q: Kan flygande provtest utföra komplett funktionell testning?
A: Även om det är möjligt för enkla kretsar används ofta ICT (tillsammans med funktionsenheter) mer vanligt för att fullt ut verifiera en krets funktion.
Q: Vilken risk finns det med att endast lita på ett testsystem?
A: Att förlita sig på en enda inspektionsmetod kan leda till att defekter inte upptäcks eller flaskhalsar under introduktion av nya produkter och vid massproduktion. Att kombinera två inspektionsmetoder (eller komplettera dem med automatisk optisk inspektion eller röntgeninspektion) kan möta alla krav på täckning av inspektion.
Q: Hur snabb är ICT jämfört med flygande prov?
A: ICT-system kan vanligtvis testa hundratals tryckkort per timme. I motsats till detta kan flygande probtest endast testa ett par dussin per timme, beroende på komplexiteten hos tryckkortet.
Valet mellan in-krets-testning och flygande probtest beror slutligen på produktionskrav, kretskortscomplexitet, budget och tid-till-marknad. Flygande probtest utförs utmärkt i de tidiga, snabba och innovativa stadierna av produktutveckling, vilket möjliggör snabb designiteration och omedelbar återkoppling. In-krets-testning, med sin specialiserade utrustning och möjlighet till samtidig testning, ger omfattande, snabb och kostnadseffektiv testtäckning för mogna, stabila och storskaliga monteringslinjer.