Günümüzde basılı devre kartı (PCB) montaj ve test alanının hızla gelişmesiyle, ürün kalitesinin yüksek olması ve güvenilirliğin sağlanması PCB üreticileri ve elektronik tasarımcılar için hayati öneme sahiptir. Etkili, ölçeklenebilir ve maliyet açısından verimli test çözümleri aranırken iki yaklaşım öne çıkmaktadır: yaygın olarak "çivi yatağı" testi olarak bilinen devre içi test (ICT) ve flying probe testi (FPT).
Her ikisi de en iyi test yöntemleri arasında kabul edilir ancak ICT ve FPT arasında seçim yapmak, daha derin bir anlayış ve tartışma gerektiren devam eden bir tartışmadır. Farklı üretim ölçeklerine, tasarımıma ve test gereksinimlerine göre uygun test yönteminin seçilmesi kritik öneme sahiptir.
Bu kılavuz, bu iki test sistemi hakkında size yardımcı olmak için kapsamlı bir navigasyon aracıdır. Gerçek hayattan örneklerin yanı sıra pratik ipuçları ve uzman görüşlerini de içerir. Bu kılavuz aracılığıyla, uçuş probu testi ile ICT (devre içi test) arasındaki temel farklar—uçuş probu testi karşılaştırması ile devre içi test—her bir test kurulumunun avantajları ve her bir test yönteminin PCB test ihtiyaçlarınız için en uygun olduğu senaryolar hakkında kapsamlı bir anlayış kazanacaksınız.

Uçuş probu testi, PCB prototiplemesi, küçük ila orta ölçekli üretim ve Yeni Ürün Tanıtımı (NPI) testleri için uygun, yüksek esneklikte, takım gerektirmeyen bir test çözümüdür. Özel pim konumlandırma fikstürlerine olan ihtiyacı ortadan kaldırır ve bunun yerine gelişmiş robotik sistemler ve test yazılımı tarafından kontrol edilen (sekize hatta daha fazlasına kadar çıkabilen) hareketli test problarını kullanır.
Bu test yönteminin temel avantajı, hız ve uyum sağlama özelliğini bir araya getiren tasarımıdır ve pahalı ve iş gücü açısından yoğun özel fikstürlere gerek kalmadan PCB üzerindeki belirli test noktalarına (padyalar, viyalar, bileşenler) fiziksel temas imkanı sağlar. Bu test sistemi, sık sık tasarım ayarlamaları gerektiren uygulamalar için idealdir ve yeni sürümler çıktığında kolayca güncelleme yapılmasını sağlar.
Uçuş probları testi, dinamik "test LED" kontrollerini, SMD bileşen yönü kontrollerini ve (doğru şekilde yapılandırılmışsa) dinamik IC programlamayı içerebilir.

Devre içi test (ICT), aynı zamanda 'çivi yatağı' testi olarak da bilinir ve uzun süredir seri üretim için sektör standardıdır. Bu yöntem, basılı devre kartı üzerindeki belirli bir test noktasına veya düğüme tam olarak hizalanmış yüzlerce hatta binlerce yaylı pimle donatılmış özel test ekipmanlarını kullanır.
ICT test cihazları (devre içi test cihazları olarak da bilinir) basılı devre kartı üzerindeki tüm düğümleri tek bir bastırma işlemiyle eş zamanlı olarak test edebilir ve böylece açık devreler, kısa devreler, dijital hatalar, lehim köprüleri ve diğer montaj hatalarını tespit etmek amacıyla yüksek hızlı otomatik inceleme yapılmasını sağlar.
Faktör |
Flying Probe Test |
Devre İçi Test (ICT) |
Kurulum Maliyeti |
Düşük (sabitleme geremiyor) |
Yüksek (sabitleme gerekiyor) |
Test Döngüsü/Zaman |
Her PCB için daha uzun test döngüsü |
Aşırı hızlı—yüksek hacimli üretim |
Hacim Uygunluğu |
Prototipleme, düşük hacimli, hızlı değişiklikler |
Büyük, sabit üretim partileri |
Test Kapsamı |
Esnek, zıvana yatağının ulaşamadığı test noktalarına erişebilir |
Tam kart erişimi ile maksimum |
Değişiklik Yönetimi |
Kolay, yazılım destekli |
Pahalı—her büyük değişiklik için yeni fixture gerekir |
En İyi Test Yöntemi |
Tasarım değişiklikleri, DFT incelemeleri, hızlı geri bildirim için |
Kararlı yerleşimler, verimlilik, iş hacmi için |
İletişim Yöntemi |
Hareketli problar her noktaya temas eder |
Sabit pimler (çivi yatağı aparatı) tüm noktalara aynı anda dokunur |
Hasar Riski |
Çok Düşük |
Daha yüksek; hassas alanlarda risk vardır |
En-boy |
ICT Testi |
Flying Probe Test |
İşık Cinsi |
Sabit çoklu pimli özel test aparatı (çivili yatak aparatı) |
Özel aparat yok; hareketli uçan problar kullanır |
Test Süreci |
Tüm noktaların aynı anda test edilmesi |
Sıralı test; proble bir test noktasından diğerine hareket eder |
Test süresi |
PCB başı saniyeler—yüksek hacim için ideal |
PCB başı dakikalar—prototipler ve düşük hacimli işler için en iyisi |
Esneklik |
Düşük; her değişiklik yeni aparat gerektirir |
Yüksek; yazılım uyumu, hızlı yeniden programlama |
Test Başına Maliyet |
Yüksek hacimde düşük ancak başlangıçtaki aparat maliyeti yüksektir |
Levha başına daha yüksek ancak hemen hemen sıfır başlangıç maliyeti |
Test Kapsamı |
Açık devreler, kısa devreler, değer kontrolleri ve entegre fonksiyonlar için en iyisidir |
Açık/kesik devreler için mükemmeldir, bazı değer kontrollerini yapar ancak yoğun BGA veya iç katman arızalarında sınırlı olabilir |
Test Karmaşıklığı |
Ek kurulum ile fonksiyonel testler gerçekleştirebilir |
Sınırlı fonksiyonel test imkanı; elektriksel ve bileşen kontrollerine odaklanır |
En İyi Kullanım Durumu |
Olgun, yüksek hacimli panolar için çevrimiçi test |
Hızlı prototipleme, yeni ürün geliştirme (NPI), düşük hacimli üretim ve sık tasarım değişikliği olan panolar |
Risk |
Pim aşınması, pad hasarı riski (özellikle bakımı iyi yapılmazsa) |
Minimum risk, padlere ve devre kartlarına zararsızdır |


Neden hibrit test kullanılır? Ardışık uçuş probu testi ile devre içi testi birleştirmek, tasarım doğrulamadan seri üretime kadar modern baskı devre kartı üretim hatlarının çeşitli montaj test ihtiyaçlarını karşılayabilir:
S: DFM/DFT doğrulama için hangi test yöntemi en iyisidir?
A: Flying probe ölçümleri, tasarım yinelemesi ve üretim odaklı tasarım çabaları için benzersiz avantajlar sunar. Herhangi bir donanım kurulumu gerektirmez ve tasarımdaki değişikliklere hızlı yanıt vermenizi sağlar.
S: Ana fark nedir—flying probe ile iç devre testi (ICT) arasındaki?
A: ICT teknolojisi, bir baskılı devre kartındaki tüm düğümleri aynı anda test etmek için 'çivi yatağı' adı verilen bir sistem kullanır ve bu da onu yüksek hacimli, düşük maliyetli uygulamalar için ideal hale getirir. Diğer taraftan, moving probe testi sıralı (hareketli problu) bir test yöntemi kullanır ve küçük parti üretimine uygundur; ayrıca birden fazla PCB değişikliğini esnek bir şekilde ele alabilir.
S: Flying probe testi tam fonksiyonel test yapabilir mi?
A: Basit devreler için mümkün olsa da, bir devrenin çalışmasını tam olarak doğrulamak için genellikle ICT (ve fonksiyonel cihazlar) daha yaygın olarak kullanılır.
S: Yalnızca bir test sistemine güvenmenin riski nedir?
A: Tek bir muayene yöntemine güvenmek, yeni ürün lansmanları ve seri üretim sırasında kusurların kaçırılmasına veya darboğazlara neden olabilir. İki muayene metodunun birleştirilmesi (veya bunların otomatik optik muayene ya da X-ışını muayenesi ile desteklenmesi) tüm muayene kapsama gereksinimlerini karşılayabilir.
S: ICT'nin hızı uçuş probuna göre ne kadardır?
A: ICT sistemleri genellikle saatte yüzlerce baskı devre kartını test edebilir. Buna karşılık, Uçuş probu testi karmaşıklığa bağlı olarak saatte yalnızca birkaç düzine kart test edebilir.
Devre içi test ile uçan prob testi arasında yapılacak seçim, nihai olarak üretim gereksinimlerine, kart karmaşıklığına, bütçeye ve pazara sunulma süresine bağlıdır. Uçan prob testi, ürün geliştirme sürecinin erken, hızlı ve yenilikçi aşamalarında üstün performans gösterir ve hızlı tasarım yinelemesini ve anında geri bildirimi mümkün kılar. Devre içi test ise özel donanımı ve eşzamanlı test yeteneği ile olgunlaşmış, kararlı ve büyük ölçekli montaj hatları için kapsamlı, hızlı ve maliyet açısından verimli bir test kapsamı sunar.