Nel campo in rapida evoluzione oggi dell'assemblaggio e del collaudo di schede a circuito stampato (PCB), garantire un'elevata qualità e affidabilità del prodotto è fondamentale per i produttori di PCB e i progettisti elettronici. Quando si cercano soluzioni di test efficienti, scalabili ed economiche, due approcci si distinguono: il test in-circuit (ICT), comunemente noto come "bed of nails", e il test a sonda volante (FPT).
Entrambi sono considerati tra i migliori metodi di test, ma la scelta tra ICT e FPT rimane una questione dibattuta che richiede una comprensione più approfondita e una discussione ulteriore. La selezione del metodo di test appropriato in base a diverse scale produttive, progettazioni e requisiti di test è fondamentale.
Questa guida è uno strumento completo di navigazione progettato per aiutarvi a comprendere questi due sistemi di test. Include non solo esempi pratici e suggerimenti utili, ma anche opinioni esperte. Attraverso questa guida acquisirete una comprensione approfondita delle principali differenze tra i due metodi — test a sonda volante vs. ICT, test a sonda volante vs. test in-circuito — i vantaggi di ciascuna configurazione di test e gli scenari in cui ciascun metodo di test è più adatto alle vostre esigenze di verifica dei PCB.

Il test a sonda volante è una soluzione di test altamente flessibile e senza attrezzature specifiche, adatta alla prototipazione di PCB, alla produzione di volumi medi-piccoli e ai test di introduzione di nuovi prodotti (NPI). Elimina la necessità di fixture dedicate per il posizionamento dei pin, utilizzando invece sonde di test mobili (fino a otto o più) controllate da robotica avanzata e software di test.
Il vantaggio principale di questo metodo di test risiede nel design, che combina velocità e adattabilità, permettendo il contatto fisico con punti di prova specifici (pad, vias, componenti) sulla PCB senza la necessità di costosi e laboriosi apparati dedicati. Questo sistema di test è ideale per applicazioni che richiedono frequenti aggiustamenti progettuali e garantisce un facile aggiornamento quando vengono rilasciate nuove versioni.
I test con sonda volante possono includere verifiche dinamiche degli "LED di test", controlli dell'orientamento dei componenti SMD e (se configurati correttamente) verifiche dinamiche La programmazione IC.

Il test a circuito chiuso (ICT), noto anche come test a letto di chiodi o semplicemente test ICT, è da tempo lo standard del settore per la produzione di massa. Questo metodo utilizza apparecchiature di test specializzate dotate di centinaia o addirittura migliaia di spine a molla, ciascuna allineata con precisione a un punto di test o nodo specifico sulla scheda a circuito stampato.
Gli strumenti ICT (noti anche come tester a circuito chiuso) possono testare simultaneamente tutti i nodi su una scheda a circuito stampato con una sola pressione, consentendo un'ispezione automatizzata ad alta velocità dell'intera scheda per rilevare circuiti aperti, cortocircuiti, errori digitali, ponteggi di saldatura e altri difetti di assemblaggio.
Fattore |
Test a Sonda Volante |
Test in-circuito (ICT) |
Costo di configurazione |
Basso (nessuna fixture richiesta) |
Alto (richiede fixture) |
Ciclo di prova/Tempo |
Ciclo di prova più lungo per ogni PCB |
Estremamente veloce—produzione ad alto volume |
Idoneità per il volume |
Prototipazione, basso volume, cambiamenti rapidi |
Lotti di produzione grandi e stabili |
Copertura del test |
Flessibile, può raggiungere punti di test inaccessibili con la piastra a contatti |
Massima con accesso completo alla scheda |
Gestione del cambiamento |
Facile, guidato da software |
Costoso—nuovo apparato necessario per ogni modifica significativa |
Miglior metodo di test |
Per modifiche progettuali, revisioni DFT, feedback rapido |
Per layout stabili, efficienza, capacità produttiva |
Metodo a contatto |
Le sonde mobili fanno contatto in ogni punto |
I perni fissi (fixture tipo letto di chiodi) toccano tutti i punti contemporaneamente |
Rischio di danneggiamento |
Molto Basso |
Più elevato; rischio con pad delicati |
Aspetto |
Test ICT |
Test a Sonda Volante |
Tipo di Impianto |
Apparecchiatura di prova dedicata con più spine fisse (apparecchiatura a letto di chiodi) |
Nessuna apparecchiatura dedicata; utilizza sonde volanti mobili |
Processo di prova |
Test simultaneo di tutti i punti |
Test sequenziale; le sonde si spostano da un punto di test all'altro |
Tempo di prova |
Secondi per PCB—ideale per volumi elevati |
Minuti per PCB—migliore per prototipi e lavori a basso volume |
Flessibilità |
Bassa; ogni modifica richiede una nuova apparecchiatura |
Elevata; adattamento software, riprogrammazione rapida |
Costo per test |
Bassa a volume elevato, ma il costo iniziale dell'apparecchiatura è elevato |
Più elevato per scheda, ma praticamente nessun costo iniziale |
Copertura del test |
Ideale per circuiti aperti, cortocircuiti, verifiche del valore e funzione integrata |
Eccellente per circuiti aperti/cortocircuiti, alcune verifiche del valore, ma può essere limitato per BGA densi o difetti degli strati interni |
Complessità del test |
Può eseguire test funzionali con configurazione aggiuntiva |
Test funzionale limitato; focalizzato su verifiche elettriche e dei componenti |
Miglior Utilizzo |
Test in-circuit per schede mature e ad alto volume |
Prototipazione rapida, NPI, basso volume e schede con frequenti modifiche di progetto |
Rischio |
Usura dei pin, potenziale danneggiamento dei pad (soprattutto se non ben mantenuti) |
Rischio minimo, delicato sui pad e sulle schede circuitali |


Perché utilizzare un test ibrido? Combinando il test volante successivo e il test in-circuit è possibile soddisfare le diverse esigenze di test dell'assemblaggio nelle linee di produzione moderne di schede a circuito stampato, dalla verifica del progetto alla produzione di massa:
D: Quale metodo di test è migliore per la validazione DFM/DFT?
A: Le misurazioni con sonda volante offrono vantaggi senza pari per l'iterazione progettuale e gli sforzi di progettazione orientati alla produzione. Non richiedono l'installazione di hardware e consentono una rapida risposta ai cambiamenti di progetto.
D: Qual è la differenza principale tra sonda volante e test in-circuit?
R: La tecnologia ICT utilizza un letto di chiodi per testare simultaneamente tutti i nodi di una scheda a circuito stampato, risultando ideale per applicazioni ad alto volume e basso costo. Il test con sonda mobile, invece, utilizza un metodo sequenziale (sonda mobile), adatto alla produzione su piccola scala e in grado di gestire in modo flessibile molteplici modifiche alle PCB.
D: Il test con sonda volante può eseguire un test funzionale completo?
R: Sebbene fattibile per circuiti semplici, il test ICT (insieme a dispositivi funzionali) è spesso più comunemente utilizzato per verificare completamente il funzionamento di un circuito.
D: Qual è il rischio di affidarsi a un solo sistema di test?
A: L'affidarsi a un singolo metodo di ispezione può portare a difetti non rilevati o colli di bottiglia durante il lancio di nuovi prodotti e nella produzione di massa. Combinando due metodi di ispezione (o integrandoli con ispezione ottica automatica o ispezione a raggi X) è possibile soddisfare tutti i requisiti di copertura dell'ispezione.
D: Quanto è veloce l'ICT rispetto al flying probe?
R: I sistemi ICT possono tipicamente testare centinaia di schede a circuito stampato all'ora. Al contrario, il test con flying probe può riuscire a testarne solo alcune decine all'ora, a seconda della complessità della scheda.
La scelta tra il test in-circuit e il test a sonda volante dipende fondamentalmente dai requisiti produttivi, dalla complessità della scheda, dal budget e dai tempi di immissione sul mercato. Il test a sonda volante si distingue nelle fasi iniziali, rapide e innovative dello sviluppo del prodotto, consentendo iterazioni rapide del design e un feedback immediato. Il test in-circuit, grazie a apparecchiature dedicate e alla capacità di eseguire test simultanei, offre una copertura di test completa, rapida ed economica per linee di assemblaggio mature, stabili e su larga scala.