In het snel evoluerende vakgebied van de assemblage en test van printplaten (PCB's) is het waarborgen van hoge productkwaliteit en betrouwbaarheid van cruciaal belang voor fabrikanten van printplaten en elektronica-ontwerpers. Bij het zoeken naar efficiënte, schaalbare en kosteneffectieve testoplossingen, springen twee methoden eruit: in-circuit testen (ICT), algemeen bekend als 'bed of nails'-testen, en flying probe testen (FPT).
Beide worden beschouwd als enkele van de beste testmethoden, maar de keuze tussen ICT en FPT blijft een lopend debat dat een dieper begrip en verdere bespreking vereist. Het selecteren van de juiste testmethode op basis van verschillende productieschalen, ontwerp en testvereisten is van cruciaal belang.
Deze gids is een uitgebreid navigatiehulpmiddel om u te helpen deze twee testsystemen te begrijpen. De gids bevat niet alleen praktijkvoorbeelden en handige tips, maar ook expertmeningen. Door deze gids krijgt u een compleet overzicht van de belangrijkste verschillen tussen hen — vliegende naald testen versus ICT, vliegende naald testen versus in-circuit testen — de voordelen van elke testopstelling, en de situaties waarin elke testmethode het beste geschikt is voor uw PCB-testbehoeften.

Vliegende naald testen is een zeer flexibele, gereedschapsvrije testsoplossing die geschikt is voor PCB-prototyping, productie in kleine tot middelgrote volumes en New Product Introduction (NPI) testen. Het elimineert de noodzaak van speciale pinnenpositioneringsfixtures en maakt in plaats daarvan gebruik van bewegende testnaalden (tot acht of meer) die worden bestuurd door geavanceerde robotica en testsoftware.
Het belangrijkste voordeel van deze testmethode ligt in het ontwerp, dat snelheid en aanpasbaarheid combineert, waardoor fysiek contact kan worden gemaakt met specifieke testpunten (pads, vias, componenten) op de PCB zonder behoefte aan dure en tijdrovende speciale fixtures. Dit testsysteem is ideaal voor toepassingen die regelmatig ontwerpveranderingen vereisen en zorgt voor eenvoudige updates wanneer nieuwe versies worden uitgebracht.
Vliegende probe-testen kunnen dynamische 'test LED'-controles, controle van de oriëntatie van SMD-componenten, en (indien correct geconfigureerd) dynamische IC-programmering omvatten.

In-circuittesten (ICT), ook bekend als bed-of-nails-testen of eenvoudigweg ICT-testen, is al lange tijd de industriestandaard voor massaproductie. Deze methode maakt gebruik van gespecialiseerde testapparatuur uitgerust met honderden of zelfs duizenden veerbelaste pinnen, elk nauwkeurig uitgelijnd met een specifiek testpunt of knooppunt op de printplaat.
ICT-testers (ook wel in-circuittesters genoemd) kunnen alle knooppunten op een printplaat tegelijkertijd testen met één druk op de knop, waardoor een snelle geautomatiseerde inspectie van de gehele printplaat mogelijk is om onder andere onderbroken verbindingen, kortsluitingen, digitale fouten, soldeerverbindingen en andere assemblagegebreken op te sporen.
Factor |
Vliegende Sonde Test |
In-Circuit Test (ICT) |
Voorbereidingskosten |
Laag (geen fixture) |
Hoog (fixture vereist) |
Testcyclus/tijd |
Langere testcyclus per PCB |
Extreem snel—productie met hoog volume |
Volume geschiktheid |
Prototyping, laag volume, snelle wijzigingen |
Grote, stabiele productielooptijden |
Testdekking |
Flexibel, kan testpunten bereiken die onbereikbaar zijn voor een bed of nails |
Maximaal met volledige toegang tot de printplaat |
Verandermanagement |
Eenvoudig, softwaregestuurd |
Duur—nieuwe fixture bij elke grote wijziging |
Beste testmethode |
Voor ontwerpveranderingen, DFT-beoordelingen, snelle feedback |
Voor stabiele lay-outs, efficiëntie, doorvoer |
Contactmethode |
Verplaatsbare sondes maken contact op elk punt |
Vaste pinnen (bed van nagels fixture) raken alle punten tegelijk |
Beschadigingsrisico |
Zeer laag |
Hoger; risico bij delicate pads |
Aspect |
ICT-test |
Vliegende Sonde Test |
Toestel Type |
Gedetineerd testfixture met meerdere vaste pinnen (bed van nagels fixture) |
Geen speciale bevestiging; gebruikt beweegbare vliegende probes |
Testproces |
Gelijktijdige test van alle punten |
Sequentiële test; probes verplaatsen zich van het ene testpunt naar het andere |
Testtijd |
Seconden per PCB—ideaal voor hoge volumes |
Minuten per PCB—het beste voor prototypen en kleinere oplagen |
Flexibiliteit |
Laag; elke wijziging vereist een nieuwe bevestiging |
Hoog; softwareaanpassing, snelle herprogrammering |
Kosten per test |
Laag bij hoge volumes, maar de initiële kosten voor de bevestiging zijn hoog |
Hoger per printplaat, maar vrijwel geen initiële kosten |
Testdekking |
Het beste voor onderbroken circuits, kortsluitingen, waardebepaling en geïntegreerde functies |
Uitstekend voor open/kortsluitingen, enkele waardecontroles, maar mogelijk beperkt voor dichte BGA of fouten in binnenlagen |
Testcomplexiteit |
Kan functionele tests uitvoeren met extra instelling |
Beperkte functionele testmogelijkheden; gericht op elektrische en componentcontroles |
Beste Gebruiksscenario |
In-circuit testing voor volwassen, hoogvolume printplaten |
Snelle prototyping, NPI, laag volume en printplaten met frequente ontwerpwijzigingen |
Risico |
Pinslijtage, mogelijke padbeschadiging (vooral als niet goed onderhouden) |
Minimaal risico, zacht voor pads en printplaten |


Waarom hybride beproeving gebruiken? Het combineren van opeenvolgende vliegende probebeproeving en in-circuit beproeving kan voldoen aan de gevarieerde montagebeproevingseisen van moderne productielijnen voor printplaten, van ontwerpverificatie tot massaproductie:
V: Welke beproevingsmethode is het beste voor DFM/DFT-validatie?
A: Vliegende probebeproeving biedt ongeëvenaarde voordelen voor ontwerpite ratie en ontwerpen met een focus op fabricage. Het vereist geen hardware-installatie en staat een snelle respons op ontwerpwijzigingen toe.
V: Wat is het belangrijkste verschil — vliegende probeer vs in-circuit test?
A: ICT-technologie gebruikt een bed van spelden om alle knooppunten van een printplaat tegelijkertijd te testen, wat het ideaal maakt voor hoogvolume, goedkope toepassingen. Verplaatsbare probeertesten daarentegen maken gebruik van een sequentiële (verplaatsbare probeer) testmethode, geschikt voor kleine productie series en in staat om flexibel meerdere PCB-wijzigingen te verwerken.
V: Kan een vliegende probeer een volledige functionele test uitvoeren?
A: Hoewel haalbaar voor eenvoudige schakelingen, worden ICT (samen met functionele apparaten) vaker gebruikt om de werking van een schakeling volledig te verifiëren.
V: Wat is het risico van afhankelijkheid van slechts één testsysteem?
A: Afhankelijk zijn van een enkele inspectiemethode kan leiden tot gemiste defecten of knelpunten tijdens het introduceren van nieuwe producten en massaproductie. Het combineren van twee inspectiemethoden (of deze aanvullen met geautomatiseerde optische inspectie of röntgeninspectie) kan voldoen aan alle vereisten voor inspectiedekking.
V: Hoe snel is ICT vergeleken met vliegende probeer?
A: ICT-systemen kunnen doorgaans honderden printplaten per uur testen. Vliegende probe-testen kan daarentegen slechts een paar tientallen per uur testen, afhankelijk van de complexiteit van de printplaat.
De keuze tussen in-circuit testen en vliegende probe testen hangt uiteindelijk af van productie-eisen, complexiteit van de printplaat, budget en time-to-market. Vliegende probe testen blinkt uit in de vroege, snelle en innovatieve fasen van productontwikkeling, waardoor snelle ontwerpiteraties en onmiddellijke feedback mogelijk zijn. In-circuit testen, met zijn speciale apparatuur en gelijktijdige testmogelijkheden, biedt uitgebrede, snelle en kosteneffectieve testdekking voor volwassen, stabiele en grootschalige assemblagelijnen.