En el campo actual en rápida evolución del ensamblaje y la prueba de placas de circuito impreso (PCB), garantizar una alta calidad y fiabilidad del producto es crucial para los fabricantes de PCB y diseñadores electrónicos. Al buscar soluciones de prueba eficientes, escalables y rentables, destacan dos enfoques: la prueba en circuito (ICT), comúnmente conocida como prueba "bed of nails", y la prueba con sonda volante (FPT).
Ambos métodos se consideran entre los mejores, pero la elección entre ICT y FPT sigue siendo un debate continuo que requiere una comprensión y discusión más profundas. Seleccionar el método de prueba adecuado según diferentes escalas de producción, diseño y requisitos de prueba es fundamental.
Esta guía es una herramienta de navegación integral que le ayudará a comprender estos dos sistemas de pruebas. Incluye no solo ejemplos del mundo real y consejos prácticos, sino también opiniones de expertos. A través de esta guía, obtendrá una comprensión completa de las diferencias clave entre ellos: prueba con sonda volante frente a ICT, prueba con sonda volante frente a prueba en circuito, las ventajas de cada configuración de prueba y los escenarios en los que cada método de prueba es más adecuado para sus necesidades de pruebas de PCB.

La prueba con sonda volante es una solución de prueba altamente flexible y sin herramientas, adecuada para la prototipificación de PCB, producción de volumen pequeño a mediano y pruebas de introducción de nuevos productos (NPI). Elimina la necesidad de fijaciones dedicadas para posicionamiento de pines, utilizando en su lugar sondas de prueba móviles (hasta ocho o más) controladas por robótica avanzada y software de prueba.
La ventaja principal de este método de prueba radica en su diseño, que combina velocidad y adaptabilidad, permitiendo el contacto físico con puntos de prueba específicos (pads, vias, componentes) en la PCB sin necesidad de accesorios dedicados costosos y laboriosos. Este sistema de prueba es ideal para aplicaciones que requieren ajustes frecuentes en el diseño y garantiza actualizaciones fáciles cuando se lanzan nuevas versiones.
Las pruebas con sonda volante pueden incluir verificaciones dinámicas de "LED de prueba", comprobaciones de orientación de componentes SMD y (si están configuradas correctamente) pruebas dinámicas Programación de IC.

La prueba en circuito (ICT), también conocida como prueba tipo cama de clavos o simplemente prueba ICT, ha sido durante mucho tiempo el estándar de la industria para la producción masiva. Este método utiliza equipos de prueba especializados equipados con cientos o incluso miles de pines con resortes, cada uno alineado con precisión a un punto de prueba o nodo específico en la placa de circuito impreso.
Los probadores ICT (también conocidos como probadores en circuito) pueden probar todos los nodos de una placa de circuito impreso simultáneamente con una sola pulsación, permitiendo una inspección automatizada de alta velocidad de toda la placa para detectar circuitos abiertos, cortocircuitos, errores digitales, puentes de soldadura y otros defectos de ensamblaje.
El factor |
Prueba con Sonda Voladora |
Prueba de Circuito Integrado (ICT) |
Costo de configuración |
Bajo (sin accesorio) |
Alto (requiere accesorio) |
Ciclo de prueba/Tiempo |
Ciclo de prueba más largo por PCB |
Extremadamente rápido—producción de alto volumen |
Adecuación al volumen |
Prototipado, bajo volumen, cambios rápidos |
Producciones grandes y estables |
Cobertura de prueba |
Flexible, puede acceder a puntos de prueba inalcanzables para la cama de clavijas |
Máxima con acceso completo a la placa |
Gestión de Cambios |
Fácil, controlado por software |
Costoso—se requiere un nuevo accesorio para cada cambio importante |
Mejor método de prueba |
Para cambios de diseño, revisiones de DFT, retroalimentación rápida |
Para diseños estables, eficiencia, rendimiento |
Método de contacto |
Las sondas móviles hacen contacto en cada punto |
Los pines fijos (fixture tipo cama de clavos) tocan todos los puntos simultáneamente |
Riesgo de daño |
Muy Bajo |
Más alto; riesgo con pads delicados |
Aspecto |
Prueba ICT |
Prueba con Sonda Voladora |
Tipo de Aplicación |
Dispositivo de prueba dedicado con múltiples pines fijos (dispositivo tipo cama de clavos) |
Sin dispositivo dedicado; utiliza sondas voladoras móviles |
Proceso de prueba |
Prueba simultánea de todos los puntos |
Prueba secuencial; las sondas se mueven de un punto de prueba a otro |
Tiempo de ensayo |
Segundos por PCB—ideal para altos volúmenes |
Minutos por PCB—mejor para prototipos y trabajos de bajo volumen |
Flexibilidad |
Bajo; cada cambio requiere un nuevo dispositivo |
Alto; adaptación mediante software, reprogramación rápida |
Costo por prueba |
Bajo en altos volúmenes, pero el costo inicial del dispositivo es alto |
Más alto por placa, pero prácticamente sin costo inicial |
Cobertura de prueba |
Ideal para circuitos abiertos, cortocircuitos, verificaciones de valores y funciones integradas |
Excelente para circuitos abiertos/cortocircuitos, algunas verificaciones de valores, pero puede tener limitaciones en BGA densas o fallas de capa interna |
Complejidad de la prueba |
Puede realizar pruebas funcionales con configuración adicional |
Pruebas funcionales limitadas; se centra en verificaciones eléctricas y de componentes |
Mejor Caso de Uso |
Pruebas en circuito para placas maduras y de alto volumen |
Prototipado rápido, introducción de nuevos productos (NPI), bajo volumen y placas con cambios frecuentes de diseño |
Riesgo |
Desgaste de pines, posible daño en pads (especialmente si no se mantiene adecuadamente) |
Riesgo mínimo, suave sobre pads y placas de circuito |


¿Por qué utilizar pruebas híbridas? Combinar pruebas sucesivas con sonda volante y pruebas en circuito puede satisfacer las diversas necesidades de ensamblaje en líneas de producción modernas de placas de circuito impreso, desde la verificación del diseño hasta la producción masiva:
P: ¿Cuál método de prueba es mejor para la validación DFM/DFT?
A: Las mediciones con sonda volante ofrecen ventajas inigualables para la iteración de diseños y los esfuerzos de diseño orientado a la fabricación. No requieren instalación de hardware y permiten una respuesta rápida a los cambios en el diseño.
P: ¿Cuál es la diferencia principal entre sonda volante y prueba de circuito en línea?
A: La tecnología ICT utiliza un lecho de clavijas para probar todos los nodos de una placa de circuito impreso simultáneamente, lo que la hace ideal para aplicaciones de alto volumen y bajo costo. La prueba con sondas móviles, por otro lado, utiliza un método de prueba secuencial (sonda móvil), adecuado para producción de pequeños lotes y capaz de manejar con flexibilidad múltiples modificaciones de PCB.
P: ¿Puede la prueba con sonda volante realizar pruebas funcionales completas?
A: Aunque es factible para circuitos simples, las pruebas ICT (junto con dispositivos funcionales) suelen usarse más comúnmente para verificar completamente el funcionamiento de un circuito.
P: ¿Cuál es el riesgo de depender únicamente de un sistema de prueba?
A: Depender de un solo método de inspección puede llevar a omitir defectos o cuellos de botella durante el lanzamiento de nuevos productos y la producción en masa. Combinar dos métodos de inspección (o complementarlos con inspección óptica automatizada o inspección por rayos X) puede cumplir con todos los requisitos de cobertura de inspección.
P: ¿Qué tan rápido es ICT frente al flying probe?
R: Los sistemas ICT generalmente pueden probar cientos de placas de circuito impreso por hora. En contraste, las pruebas con flying probe podrían probar solo unas decenas por hora, dependiendo de la complejidad de la placa de circuito.
La elección entre pruebas en circuito y pruebas con sonda volante depende en última instancia de los requisitos de producción, la complejidad de la placa, el presupuesto y el tiempo de comercialización. Las pruebas con sonda volante sobresalen en las etapas iniciales, rápidas e innovadoras del desarrollo de productos, permitiendo iteraciones rápidas del diseño y retroalimentación inmediata. Las pruebas en circuito, con su equipo dedicado y capacidades de prueba simultánea, ofrecen cobertura de prueba integral, rápida y rentable para líneas de ensamblaje maduras, estables y a gran escala.